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RESEARCH
3.顕微鏡・観測技術の開発
概要
MEMSや半導体デバイス上のマイクロ・ナノ構造体に生じる応力やひずみを非接触かつ非破壊に直接計測する技術を開発しています.これらのマイクロデバイスは,半導体加工技術が進歩することで高精細パターンを含んでいますが,デバイスの性能や信頼性を向上させるためには,これらの微細パターン内の応力・ひずみ分布を定量計測することがとても重要となります.この”応力・ひずみ計測技術”を開発するため,私たちは,まず,ラマン分光やカソードルミネッセンスと薄膜引張試験技術との組み合わせで各スペクトルパラメータと応力・ひずみの成分とその大きさとの相関を求め,これらの情報を元にしてマイクロ・ナノ構造体の応力とひずみの分布を定量計測するための技術開発に取り組んでいます.