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分析・物性測定１（分光計・熱分析・顕微鏡）
質量分析計（島津製作所 GCMS-QP201000）
EI法による分子量測定を行います。分子量 100~700まで測定が可能で、当研究室では最も簡便に用いることができる質量分析計です。
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GC-TOF質量分析計(JEOL JMS-T100GC)
分子量が数千程度の化合物の分子量測定を高感度、高分解能、高速でできる飛行時間質量分析計です。
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紫外可視近赤外分光光度計（島津製作所 UV-3100PC）
紫外から近赤外領域(200-2600 nm)まで測定できる電子スペクトル装置です。積分球を備えており、溶液はもちろんKBrペレットでの測定も可能です。クライオスタット(Oxford社製)を取り付けることにより、77~500 Kまでの温度可変測定も可能です。 |
紫外可視近赤外分光光度計（島津製作所 UV-3600）
測定可能波長は185~3300 nmで、左のものと比べて近赤外領域が広くなっています。有機導電体などの混合原子価錯体は、近赤外領域に幅広い吸収帯をもつものが多いので基礎物性の測定に強い力を発揮します。さらに、クライオスタット(Oxford社製)を取り付けることにより、77~500 Kまでの温度可変測定も可能です。
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赤外分光装置 (日本分光 JASCO FT/IR-660M)
350-7800 cm-1まで測定が可能で、さらにビームスプリッターを KBr から CaF2 に変えることで
3000-12000 cm-1の測定範囲で使用できます。溶液、KBrペレットの両方で使用でき、更に全反射スペクトル(ATR)用のアタッチメントを装着することにより、
固体サンプルの表面付近のATR測定ができます。
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蛍光光度計(日本分光FP-6500)
蛍光スペクトル、励起スペクトル、りん光スペクトルを装置することができます。特注のアタッチメントにOxford製のクライオスタットを取り付けることで、、液体窒素温度から室温まで温度を制御して測定できます。
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クライオスタット (Oxford Instruments OptistatDN)
温度可変分光測定用のクライオスタットで、液体窒素温度(77 K)から300 Kまでの範囲で温度制御できます。セル(左)を変えることで固体も溶液も測定できます。電子スペクトル（写真。青色がクライオスタット）や赤外分光装置に取り付けて使用します。
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クライオスタット(Oxford Instruments Optistat DN)
左より少し高温側の77~500 Kの温度制御が可能まなクライオスタットです。温度制御下の紫外可視および赤外吸光スペクトルや蛍光スペクトル測定に力を発揮します。
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示差走査熱量計（TAインストルメント社製 Q20）
熱分析装置のメーカーとして、世界的に有名なTAインストルメント社製「示差走査熱量計（DSC）」です。
試料の熱の出入りを測定し、相転移・安定性等が分かります。ベースラインがしっかりしていて、数mg のサンプルのごく小さな熱の出入りも、迅速かつ正確に読み取れます。さらに、既に当グループにて活躍中のTG/DTAの装置と組み合わせて使えば、試料に対する熱分析が詳細に行えます。
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示差熱熱重量同時測定装置（SII社 TG/DTA7300）
サンプルをゆっくり加熱し、重量変化から融点・沸点、分解、脱溶媒、酸化、相変化等が分かります。窒素雰囲気下 1,500℃まで加熱が可能で、１回の昇温でTGとDTAの同時測定ができます。
従来の装置に比べ、ベースラインがしっかりしていて、常に安定したデータを得ることが可能になりました。
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微量融点測定装置（Yanako製 MP-500P）
デジタルプログラム温度調節器を備え、昇温を自動化しデジタル表示で使いやすい機種です。40~500℃の範囲で測定できます。
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ガス吸着量測定装置（日本ベル社製 BELSORP-mini II）
国内唯一の吸着装置メーカーである日本ベル社が独自に開発したフリースペース連続測定方式により、高精度かつ再現性良く粉体サンプルの比表面積、細孔分布を測定することが出来ます。
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走査電子顕微鏡（日本電子株式会社製 JSM-IT100(LV)）
コンパクトで多機能な走査電子顕微鏡です。300,000倍までの拡大が可能です。主に薄膜や電池電極の表面観察に用います。エネルギー分散型X線分析装置を取り付けました（2019年12月26日） |
実体顕微鏡(OLYMPUS SZ61)
汎用型の実体顕微鏡で、接眼レンズを付け替えることにより7-90倍で使用できます。こちらの顕微鏡は、目的に応じて移動させて使用するために、ジュラルミンケースに入れて保管しています。
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デジタル顕微鏡（Lumenera社製 INFINITY1）
オムロン社製のデジタル顕微鏡にデジタルカメラを取り付けました。Windows だけでなく Macintosh でも操作ができる優れものです。
動画の撮影もできるので、結晶の色調や形状の変化も捉えることができます。
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高倍率顕微鏡 (OMRON VC4500-PC)
3-CCD、450万画素の高倍率顕微鏡です。50-300倍および300-3000倍のズームレンズを使用します。もっぱら結晶等の表面観察に使用しています。
また、複数の連続して撮影した画像を用いたフォーカス合成により、より鮮明な合成画像を作成できます。
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偏光顕微鏡(LEICA DM2500 M)
試料に偏光を照射し、液晶性や偏光特性、複屈折特性を観察できます。透過光と落射光の二種類の光源で観察可能で、倍率は50, 100, 200, 500, 1000倍に調整できます。Oxford製のMicrostat Nをステージに取り付けることができ、77から500Kの温度領域で温度変化に伴う色や形状の変化を詳細に観察できます。顕微鏡用デジタルカメラ(カールツァイス社製 AxioCam H)を取り付け、写真や動画を撮影することも可能です。X線結晶構造解析に用いる単結晶の質や形状を調べるのにも役立っています。 |
クライオスタット(Oxford社製 Microstat N)
OMRONの高倍率顕微鏡やLeicaの偏光顕微鏡に取り付けて使用するクライオスタットです。温度変化に伴う結晶などの色や形状の変化を詳細に観察することができます。液体窒素温度(77K)から500 Kまでの測定が可能です。
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サーモシステム (METTLER TOLEDO FP900 OUM, FP82 OUM) 
OMRONの偏光顕微鏡に加熱ステージを乗せ、室温から375℃にかけて温度変化に伴う化合物の色の変化や熱転移温度などの自動測定を高精度で行うことが出来ます。
温度制御を行うコントロールユニット(FP900 OUM)と加熱ステージ(FP82 OUM)から構成されています。
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クーリングシステム(METTLER TOLEDO CS-FP82)
左のMETTLER TOLEDO FP900サーモシステム用の冷却装置です。液体窒素を用いて室温から–60℃までの温度制御ができます。 |
Xe光源（朝日分光 MAX-302)
キセノンランプを連続照射する光源装置です。ミラーモジュールやフィルタを変えることで250~1100 nmまでの必要な波長の光を
照射することが可能です。光量も調節可能で最大300 Wの光を出射します。
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シングルモノクロメータ(朝日分光CMS-100)
Xe光源（朝日分光 MAX-302)と組み合わせることで、単色光を照射することができます。220-900 nmの範囲で1 nm単位で波長設定が可能です。
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UV-LED照射器(KEYENCE UV-400)
ハイパワーのLED照射器です。365nmの光を最大200Wで照射できます。
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