工学部／機械学科
原子的構造解析システム（透過型電子顕微鏡及びその関連装置）
| 設備名 | 原子的構造解析システム（透過型電子顕微鏡及びその関連装置） |
|---|---|
| メーカー名 | 日本電子 株式会社 |
| 型式 | JEM2010 |
| 仕様・性能 | 加速電圧～200kV、組成分析装置付、試料加熱ホルダー付 |
| 用途 | 材料（物質）の原子レベルまで含む内部構造の観察および解析。 |
| 特徴 | 材料（物質）の内部構造を原子レベルまで観察できるほか、局所領域の組成（成分）分析や構造解析も可能。 |
| 利用上のメリット | ナノスケールで材料（物質）の内部構造を解明できる。 |
| 購入年度 | 平成7年3月 |
| 担当部署 | 工学部／機械学科 |
| 担当者 | 高木 誠、岩田 博之 |
| 連絡先 電話 | 0565-48-8121（ex.2311、1405) |
| m-takagi[at]aitech.ac.jp、iwata[at]aitech.ac.jp ※メールアドレスはSPAM対策のため「@」を「[at]」に変えて表示しています。 メー ルを送信する場合は、お手数ですが「[at]」を「@」に変更してください。 |
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