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工学部/電気学科

薄膜試料作成装置

薄膜試料作成装置

設備名 薄膜試料作成装置
メーカー名 JEOL
型式 EM-9100IS
仕様・性能 イオン加速電圧:1-8kV, 傾斜角:最大±6°(0.1°ステップ),ビーム径: 500µm(FWHM), エッチングレート:5µm/min、CCDカメラ、ターボ分子ポンプ,ペニング真空計を内蔵
用途 透過型電子顕微鏡用試料作製装置
特徴 短冊形状[2.8mm(長さ)×0.5 mm(幅)×0.1mm(厚さ)]の試料(主に半導体・セラミックス・金属)を高速で100nm程度の厚さまで薄片化可能
利用上のメリット 従来の手法より早くかつダメージを少なく作製可能
購入年度 平成22年
担当部署 工学部/電気学科・総合技術研究所
担当者 岩田 博之
連絡先  電話 0565-48-8121(ext.1405)
E-MAIL iwata[at]aitech.ac.jp
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